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SJ 1599-1980 BT31型硅双基极二极管
作者:
标准资料网
时间:
2024-05-28 10:25:13
浏览:
9617
来源:
标准资料网
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基本信息
标准名称:
BT31型硅双基极二极管
中标分类:
电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体二极管
发布日期:
实施日期:
2004-09-01
首发日期:
作废日期:
出版日期:
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类:
电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体二极管
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【英文标准名称】:Methodofmacro-streak-flawtestforsteel
【原文标准名称】:钢的宏观条痕试验方法
【标准号】:JISG0556-1998
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1998-12-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonIronandSteel
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:外观检查(试验);钢;缺陷;黑色金属;宏观检查;缺陷与故障;铁类合金;裂纹
【英文主题词】:steels;;ferrousalloys;macroscopicexamination;visualinspection(testing);flaws;defects
【摘要】:この規格は,肉眼又は10倍以下の拡大レンズによる圧延又は鍛造された鋼の段削り地きず試験方法及びマクロ試験による非金属介在物評価方法について規定する。
【中国标准分类号】:H20
【国际标准分类号】:77_040_99
【页数】:19P;A4
【正文语种】:日语
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